BHGE检测科技X-Ray检测

BHGE检测科技X-Ray检测在电子行业失效分析的研讨会
三月的北京，春暖花开。迎着两会蓝，由BHGE检测科技、北京朗时云帆科技有限公司、IPC联合举办的“X-Ray检测在电子行业失效分析的研讨会”于2019年3月6日在GE北京技术园区成功召开。

会议由BHGE检测科技X射线系统销售经理张大磊主持。BHGE检测科技X射线系统大中华区销售总监孔凡琴博士首先为大会致开幕词，并分享了BHGE检测科技“在中国为中国”的发展战略，以及检测科技在中国的相关业务和即将开业的的两家全新的客户应用中心。BHGE在中国的持续投资，将更好地为中国客户提供更先进的产品和技术及更优质的服务和客户体验。

本次会议邀请了京津冀经济圈六十余家单位参加，涵盖大学、科研院所及电子制造企业。会议由BHGE检测科技资深应用专家李珉就X-Ray检测在表面贴装、IC封装以及微纳米工业CT在电子行业失效分析中的应用案例，与参会的专家、学者、从业人员进行分享、探讨。同时，会议邀请了IPC主任讲师史俊杰就电子行业特别是BGA相关工艺标准做了精彩的讲解和分享。

本次研讨会为京津冀电子行业相关单位提供了一次相互交流学习的机会，大家都认识到失效分析中X-Ray检测的重要性。通过面对面的沟通探讨，增进了彼此间的问题和解决方法的了解，为促进交流合作奠定了良好的基础。