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方块电阻测试仪SP-601型方形四探针探头

时间:2022-05-21 13:42来源:www.jd17.cn 作者:君达时代 点击:
方块电阻测试仪SP-601型方形四探针探头 SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头,专用于测量小样品的四探针探头,
方块电阻测试仪SP-601型方形四探针探头

SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头,专用于测量小样品的四探针探头,可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪SP-601型方形四探针探头特性及规格:

1;特制之手握式探笔
2;球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3;探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4;探头使用寿命长
5;探针间距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

SP-601型方形四探针探头
 
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形

(责任编辑:君达仪器)
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