LT-2型单晶少子寿命测试仪 LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试
ST-21 L手持式 方块电阻测试仪 ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄
ST-21 H 型方块电阻测试仪 ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜
ST-21型方块电阻测试仪 ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透
RTS-2/RTS-2A型四探针测试仪(便携式) RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设
RTS-11型金属四探针测试仪 专用于测试低阻金属材料电阻率及方块电阻 测量范围:电阻率:10 -7 ~10 -2 .cm;方块电阻:10 -6 ~10 -1 /; RTS-11型金属四探针测试仪 是运用四探针测量原理的
HP系列四探针探头 HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜
FT-201系列四探针探头FT-202/FT-203/FT-204 FT系列四探针探头 是采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹簧片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性
RTS-4 型四探针测试仪 RTS-4型四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材
RTS-5型双电测四探针测试仪 RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,
RTS-3型手持式四探针测试仪 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计; 使用锂电池供电,一次充电可连续使用100小时; RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针
RTS-9型双电测四探针测试仪 RTS-9型双电测四探针测试仪 采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,
Megger DET3TD 接地电阻测试仪 DET3TC、DET4TC2 和 DET4TCR2 可以使用选配的电流钳表(ICLAMP)来进行未拆除连接的导体电流和接地电极电阻,并且不影响电力设备的接地系统(附棒技术,ART)。
美国 DESCO 19290 重锤式电阻测试仪选配电极 DESCO 19290 重锤式电阻测试仪选配电极 50005 同心圆电极(包含 BNC 转换接头) ANSI/ESD STM11.11,IEC 61340-2-3 规范 测试材料表面电阻,并根据转换系
福禄克Fluke 1625-2接地测试仪特点 Fluke 1625-2接地测试仪 是一种测量频率选择过程完全自动化的接地电阻测试仪。 Fluke 1625-2接地测试仪 可按照 DIN IEC61557-5/EN61557-5 标准自动测试探针和辅助
DY4102 电子式指针接地电阻测试仪 功能 量程 基本精度 接地电阻 0~10/100/1000 5% 接地电压 0~30V 5% 电池欠压提示 电源 AA1.5V6(UM3) 标准包装尺寸 15010070mm 产品重量 约680克