亚锐Array 3662A可编程直流开关电源0-35V/0-14.5A/500W Array 366x系列500W 可编程直流开关电源,不但具有较高的转换效率,而且输出纹波与噪声亦可媲美传统线性电源。该系列机型采用优化设计...
亚锐Array 3661A可编程直流开关电源0-20V/0-25A/500W Array 366x系列500W 可编程直流开关电源,不但具有较高的转换效率,而且输出纹波与噪声亦可媲美传统线性电源。该系列机型采用优化设计的...
LT-3型单晶少子寿命测试仪 LT-3型单晶少子寿命测试仪特点/规格 *.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命; *.测试单晶电阻率范围: 0.3.cm; *.可测...
CV-2000型电容电压特性测试仪 作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容)。加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,PN结势垒区变宽,势垒...
CV-5000型电容电压特性测试仪 在集成电路特别是MOS电路的生产和开发研制中,MOS电容的C-V测试是极为重要的工艺过程监控测试手段,通过C-V测试达到优化生产过程中的工艺参数,提高I...
LT-2型单晶少子寿命测试仪 LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试...
ST-21 L手持式 方块电阻测试仪 ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄...
ST-21 H 型方块电阻测试仪 ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜...
ST-21型方块电阻测试仪 ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透...
RTS-3型手持式四探针测试仪 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计; 使用锂电池供电,一次充电可连续使用100小时; RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针...
RTS-3型手持式四探针测试仪 测量范围宽、精度高、稳定性好、结...
RTS-9型双电测四探针测试仪 RTS-9型双电测四探针测试仪 采用了四...
Megger DET3TD 接地电阻测试仪 DET3TC、DET4TC2 和 DET4TCR2 可以使用选配...
美国 DESCO 19290 重锤式电阻测试仪选配电极 DESCO 19290 重锤式电阻...
福禄克Fluke 1625-2接地测试仪特点 Fluke 1625-2接地测试仪 是一种测...
DY4102 电子式指针接地电阻测试仪 功能 量程 基本精度 接地电阻...