C测试仪 3504-10/电容测试仪 HIOKI 3504-10的性能：
- 最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
- 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
- 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
- 可选定测量电压
- 触发同步测量
- 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
- C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头
C测试仪 3504-10/电容测试仪 HIOKI 3504-10 的基本参数
| 测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan） |
| 测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本確度 | （代表値）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各係数 |
| 测量频率 | 120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 | 恒定电压模式: 500 mV, 1 V 测量范围: CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz） CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz） CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz） CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz） 信号电平精度 ±10% ± 5 mV |
| 输出电阻 | 5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外） |
| 显示 | 发光二级管 |
| 测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 機能 | BIN 分选测量功能（仅限于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（仅限于3504） |
| 电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 体积及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。
C测试仪 3504-10/电容测试仪 HIOKI 3504-10 的测试冶具或电缆等选件：
4端子测试探头 9140：DC～100 kHz, 1 m
针型测试探头 9143： DC～5 MHz, 1 m
测试冶具 9261： DC～5 MHz, 1 m
测试冶具 9262： DC～5 MHz, 直结型
SMD测试冶具 9263： DC～5 MHz, 直结型
SMD测试冶具 9677： 操作频率:DC～120MHz 测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9699: 操作频率:DC～120MHz，测量对象尺寸：W:1.0~4.0mm H:1.5mm
GP-IB连接电缆: 9151-02 2m 长
GP-IB连接电缆:9151-04 4 m长
打印机 9442:数值印字
AC电源转换器 9443-01; 适用于9442, 100V
AC电源转换器 9443-02： 适用于用, 欧州
AC电源转换器 9443-03： 适用于, 美国
连接电缆 9444 ：适用于3504/9442, 线长:1.5 m
记录纸 1196： 112mm x 25m, 10 卷/盒
