日本日置HIOKI 3506高速电容测试仪
HIOKI 3506高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试测试仪 3505/ 3506
- 反复测量精度更高，最适合生产线
- 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
- 测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
- 比测仪的设定值和测定值的同步显示
- 2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
- 根据BIN的测定区分容量
- 比测仪和触发器同步输出功能
日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日本日置HIOKI 3506高速电容测试仪基本参数
| 测量参数 |
C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ) |
| 测量范围 |
C:0.00000pF ～ 15.0000mF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本确度 |
（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 |
| 测量频率 |
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
| 测量信号电平 |
500mV, 1V rms |
| 输出电阻 |
1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
| 显示 |
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
| 测量时间 |
代表值: 2.0 ms （ FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 机能 |
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 |
| 电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA |
| 体积及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 |
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
| SMD测试冶具 9699 |
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底部 SMD电极
操作频率:DC～120MHz
测量对象尺寸：W:1.0~4.0mm H:1.5mm |
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| SMD测试冶具 9677 |
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侧面 SMD 电极
操作频率:DC～120MHz
测量对象尺寸:3.5±0.5mm |
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| SMD测试冶具 9263 |
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DC～5 MHz, 直结型 |
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| 测试冶具 9262 |
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DC～5 MHz, 直结型 |
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| 测试冶具 9261 |
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DC～5 MHz, 1 m |
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| 针型测试探头 9143 |
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DC～5 MHz, 1 m |
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| 4端子测试探头 9140 |
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DC～100 kHz, 1 m |
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