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TT260涂层测厚仪校准方法和影响测量精度因素

时间:2009-11-24 22:19 来源:www.jd17.cn 作者:深圳君达 点击:
TT260涂层测厚仪校准方法和影响测量精度 因素 TT260涂层测厚仪关于测量和误差的说明,特价供应TT260涂层测厚仪 如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内

TT260涂层测厚仪校准方法和影响测量精度因素

TT260涂层测厚仪关于测量和误差的说明,特价供应TT260涂层测厚仪

⊙ 如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内(见附录1);
⊙ 根据统计学的观点,一次读数是不可靠的。因此任何由TT260 显示的测量值都是五次"看不见"的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由测头和仪器完成的;
⊙ 为使测量更加精确,可利用统计程序在一个点多次测量,粗大误差用CLEAR 删除,最后覆层的厚度为:CH = M+S+δ
其中: CH:覆层厚度
M:多次测量的平均值
S:标准方差

TT260涂层测厚仪
TT260涂层测厚仪仪器允许误差
TT260涂层测厚仪的校准

为使测量准确,应在测量场所对仪器进行校准。
3.1 校准标准片(包括箔和基体)
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
a) 校准箔
对于磁性方法,“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准,而且比用有覆盖层的标准片更合适。
b) 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法,覆盖层是非磁性的。对于涡流方法,覆盖层是非导电的。
TT260涂层测厚仪基体
a) 对于磁性方法,标准片基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
b) 如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:
1) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准;
2) 用一足够厚度的,电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。
c) 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率,应与试样的曲率相同。
TT260涂层测厚仪校准方法
TT260涂层测厚仪
有三种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。
TT260涂层测厚仪零点校准
适用于除 CN02 外的所有的测头。
a) 在基体上进行一次测量,屏幕显示<×.×μm>。
b) 按ZERO 键,屏显<0.0>。校准已完成,可以开始测量了。
c) 重复上述a、b 步骤可获得更为精确的零点,高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
TT260涂层测厚仪二点校准
TT260涂层测厚仪一试片法

适用于除CN02 外的所有测头。这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
a) 先校零点(如上述)。
b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示<×××μm>。
c) 用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。注意: 1. 即使显示结果与标准片值相符,按↑、↓键也是必不可少的,例如按一次↑一次↓。这一点适用于所有校准方法。
2. 如欲较准确地进行二点校准,可重复b、c 过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。
3. 用F5 和 F10 测头,测量金属镀层时,应使用两点校准法校准。
TT260涂层测厚仪二试片法
适用于除CN02 外的所有测头。两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。
a) 先校零值。
b) 在较薄的标准片上进行一次测量,用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。
c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量,用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。
TT260涂层测厚仪在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值,其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定。
TT260涂层测厚仪方法一
a) 仪器要用3.3.1 或3.3.2.1 的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b) 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10 次左右,得到平均值Mo。
c) 然后,在已涂覆的表面上测量10 次得到平均值Mm。
d) (Mm—Mo)±S 即是覆盖层厚度。其中 S(标准偏差)是SMm 和SMo 中较大的一个。
TT260涂层测厚仪方法二:
a) 用直接方式下的单次测量法测量。
b) 先用两试片法校准仪器。
c) 在试样上测量5~10 次。按STATS 键,统计值中的平均值即是覆层厚度。
TT260涂层测厚仪铜上镀铬层的校准方法
适用于 N1 测头,并使用特殊的校准标准片。(去掉N400、N1/90°)
⊙必须使用一试片法。
⊙使用标有“铜上镀铬” (CHROME ON COPPER) 字样的特殊标准片。
TT260涂层测厚仪CN02 测头的校准方法
CN02 是一种平展的测头,仅适用于测量平滑表面的铜板或铜箔的厚度。
a) 开机后,将CN02 测头平稳地放在随机配带的5.0mm 铜块上,按ZERO 键,屏幕显示“OO”;
b) 在标准片上进行一次测量;
c) 用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量。
d) 测量双面覆铜板需用双面敷铜标准片校准。说明:在温度变化极大的情况下,如冬季或盛夏在室外操作时,应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。注意: 1. 出现下列情况,必需重新校准。
____校准时,输入了一个错误值
____操作错误
____更换了测头
TT260涂层测厚仪在直接方式下,如果输入了错误的校准值,应紧接着做一次测量,随后再做一次校准,即可获取新值消除错误值;
3. 每一组单元中,只能有一个校准值。
4. 零点校准和二点校准都可以重复多次,以获得更为精确的校准值,提高测量精度
但此过程中一旦有过一次测量,则校准过程便告结束。
TT260涂层测厚仪修改组FX 中的校准值
删除组单元中的所有数据和校准值之后才能重新校准。否则将出现E20 错误代码和鸣响报警。更换测头后,必须用此方法。
TT260涂层测厚仪基本校准的修正
在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
____测头顶端被磨损。
____新换的测头。
____特殊的用途。
在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6 个校准值(1 个零和5 个厚度值),可重新校准测头。
a) 在仪器关闭的状态下按住↑和↓键再按ON 键,直到一声长鸣,即进入基本校准状态;
b) 先校零值。可连续重复进行多次,以获得一个多次校准的平均值,这样做可以提高校准的准确性;
c) 使用标准片,按厚度增加的顺序,一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,理想的情况是2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。最大值应该接近但低于测头的最大测量范围;
注意: 每个厚度应至少是上一个厚度的 1.6 倍以上,否则视为基本校准失败。
d) 在输入 6 个校准值以后,测量一下零点,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。

TT260涂层测厚仪影响因素的有关说明

TT260涂层测厚仪基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
TT260涂层测厚仪基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
TT260涂层测厚仪基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
TT260涂层测厚仪边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
TT260涂层测厚仪曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
TT260涂层测厚仪试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
TT260涂层测厚仪表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
TT260涂层测厚仪磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
TT260涂层测厚仪附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
TT260涂层测厚仪测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
TT260涂层测厚仪测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
TT260涂层测厚仪使用仪器时应当遵守的规定
TT260涂层测厚仪基体金属特性

对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
TT260涂层测厚仪基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3)中的某种方法进行校准。
TT260涂层测厚仪边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
TT260涂层测厚仪 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
TT260涂层测厚仪读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
TT260涂层测厚仪表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

(责任编辑:深圳君达)
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