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X荧光测厚仪Thick 680，Thick680镀层测厚仪

X荧光测厚仪Thick 680是根据多年的贵金属检测技术和经验，Thick 680镀层测厚仪以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成
Thick 680镀层测厚仪性能特点

X荧光测厚仪Thick 680，Thick 680镀层测厚仪
专业贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
Thick 680镀层测厚仪技术指标
X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
Thick 680镀层测厚仪标准配置
X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
Thick 680镀层测厚仪应用领域
大型线路板，大型板材，镀层厚度测试，快速测定：660mm纵深；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；主要用于贵金属加工和首饰加工行业

X荧光测厚仪EDX680技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量一般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。

EDX680镀层测厚仪标准配置
单样品腔。
激光定位装置。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。

硬件
主机壹台，含下列主要部件：
(1) X光管(2) 正比计数器
(3) 放大电路(4) 高清晰摄像头
(5) 高压系统(6) 单样品腔
软件
X荧光光谱仪厚度分析软件V1.0；计算机、打印机各一台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
资料
仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件准直孔：Ф1.0mm

EDX680镀层测厚仪工作环境要求

环境温度要求：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
周围不能有强电磁干扰。
EDX680镀层测厚仪技术指标
分析元素范围：K-U
测量精度：0.1μm
高压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
测量时间：60s-300s
计数率：1300-8000cps

(责任编辑：admin)

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