X荧光测厚仪JD-EDX600，JD-EDX600镀层测厚仪

JD-EDX600镀层测厚仪性能特点
X荧光测厚仪JD-EDX600专业贵金属检测、镀层厚度检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

X荧光测厚仪JD-EDX600，JD-EDX600镀层测厚仪
X荧光测厚仪JD-EDX600技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量一般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。
JD-EDX600镀层测厚仪标准配置
单样品腔。
激光定位装置。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
JD-EDX600镀层测厚仪应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
JD-EDX600镀层测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

2.1 硬件
 主机壹台，含下列主要部件：
 (1) X光管
 (2) 正比计数器
 (3) 放大电路
 (4) 高清晰摄像头
 (5) 高压系统
 (6) 单样品腔
 2.2 软件
 X荧光光谱仪厚度分析软件V1.0
 2.3 计算机、打印机各一台
 计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
 2.4 资料
 仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
 2.5 标准附件
 准直孔：Ф1.0mm
 三、 工作环境要求
 3.1 环境温度要求：15℃-30℃
 3.2 环境相对湿度：<70%
 3.3 工作电源：交流220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
 3.4 周围不能有强电磁干扰。
 四、 技术指标
 4.1 分析元素范围：K-U
 4.2 测量精度：0.1μm
 4.3 高压：5kV-50kV
 4.4 管流：50μA-1000μA
 4.5 测量时间：60s-300s
 4.6计数率：1300-8000cps